玻璃脈理檢測儀 玻璃脈理檢測儀基于“紋影法”的脈理測試設(shè)備專門用于明確檢測玻璃內(nèi)部及表面各種細(xì)微的折射率變化與光學(xué)不均勻性 。 產(chǎn)品簡介 基于紋影法的玻璃脈理檢測系統(tǒng) 在現(xiàn)代光學(xué)元件、激光器玻璃及精密測量領(lǐng)域,微小的內(nèi)部折射率不均勻(脈理)會(huì)導(dǎo)致圖像畸變、光線分布不均或透光誤差,嚴(yán)重?fù)p害產(chǎn)品性能 。由于這類缺陷在普通透射光下幾乎無法被肉眼或常規(guī)設(shè)備察覺 ;凇凹y影法”的脈理測試設(shè)備專門用于明
2026-05-25 面議/套
應(yīng)力雙折射系統(tǒng)PA系列 PA系列是Photonic lattice公司采用自研的光子晶體技術(shù),針對(duì)玻璃、SIC晶圓、藍(lán)寶石等低應(yīng)力雙折射的測量系統(tǒng),數(shù)秒給出被測產(chǎn)品的應(yīng)力雙折射大小和分布信息。 產(chǎn)品簡介 PA 系列是Photonic Lattice, Inc.針對(duì)高雙折射的透明材料開發(fā)的光學(xué)測量設(shè)備,通過核心的偏光圖像傳感器, 可以快速準(zhǔn)確的測量透明材料的應(yīng)力雙折射,針對(duì)不同產(chǎn)品尺寸,均有可
2026-05-12 面議/臺(tái)
應(yīng)力雙折射系統(tǒng)WPA系列 WPA系列是Photonic lattice公司采用自研的光子晶體技術(shù),開發(fā)的一款適用性高的應(yīng)力雙折射檢測設(shè)備,可測量相位差(光程差)高達(dá)3500nm,適合注塑成型的透光器件的應(yīng)力雙折射檢測,高速而的測量能力受到各大光學(xué)廠和研究機(jī)構(gòu)的青睞。數(shù)秒給出被測產(chǎn)品的應(yīng)力雙折射大小和分布信息。 產(chǎn)品說明 WPA 系列是Photonic Lattice, Inc.針對(duì)高雙折射的
2026-05-12 面議/臺(tái)
產(chǎn)品特點(diǎn) (一)可覆蓋深紫外-中紅外傳輸窗口。 (二)低傳輸損耗、寬傳輸帶寬。 (三)低光學(xué)非線性、低色散。 (四)準(zhǔn)單模傳輸、高激光損傷閾值。 產(chǎn)品參數(shù) 物理特性 光纖材料 純石英 涂覆材料 丙烯酸脂(單涂) 纖芯直徑[μm] ~25 包層孔直徑[μm] ~12 裸纖外徑[μm] ~145 涂覆外徑[μm]
2025-11-10 面議/米
產(chǎn)品特點(diǎn) ????(一)覆蓋可見-中紅外傳輸窗口。 ????(二)低傳輸損耗、低彎曲損耗、低光學(xué)非線性。 ????(三)色散可調(diào)諧。 ????(四)準(zhǔn)單模傳輸。 ? 產(chǎn)品參數(shù) 物理特性 光纖材料 純石英 涂敷材料 丙烯酸酯(單涂) 纖芯直徑[μm] ~14 裸纖外徑[μm] ~145 涂敷外徑[μm] ~360
2025-11-10 面議/米
Photonic lattice? ? PA-Micro PA系列以每秒500萬像素的高分辨率高速測量雙折射和相位差,測量范圍為0至130納米,適用于低相位差玻璃制品等目標(biāo)的測量。 ? 特點(diǎn)主要 : 操作簡單,測量速度可以快到3秒。 視野范圍內(nèi)可一次測量,測量范圍廣。 更直觀的一體讀取數(shù)據(jù),無遺漏數(shù)據(jù)點(diǎn)。 具有多種分析功能和測量結(jié)果的比較。 維護(hù)簡單,不含旋轉(zhuǎn)光學(xué)濾片的機(jī)構(gòu)。
2023-07-14 0
三維形貌測量儀NH系列 日本Mitaka(三鷹光器)三維形貌測量儀NH系列,使用激光自動(dòng)對(duì)焦技術(shù)在半導(dǎo)體工業(yè)和超精密加工領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。通過光學(xué)非接觸式的測量,可以全自動(dòng)并高精度的測量工件的三維形貌。 品牌簡介 日本mitakakohki(三鷹光器)將深耕多年天文和醫(yī)學(xué)領(lǐng)域精密光學(xué)技術(shù),應(yīng)用于工業(yè)領(lǐng)域。 使用激光自動(dòng)對(duì)焦的非接觸式三維測量設(shè)備在半導(dǎo)體工業(yè)和超精密加工領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。 ?
2022-03-04 面議/臺(tái)
激光白光共聚焦顯微鏡 日本Lasertec公司推出了Optelics Hybrid 混合共焦顯微鏡,將激光和白光源組合在一體,用于多功能高性能共聚顯微鏡.兩組共焦光學(xué)器件與附加器件相結(jié)合,包括干涉儀,微分干涉對(duì)比觀察和光譜反射膜厚度測量儀。 品牌簡介 日本Lasertec是一家半導(dǎo)體檢測設(shè)備的公司,成立于1960年,主要提供半導(dǎo)體(晶圓/光罩)與LCD檢測設(shè)備,與美國半導(dǎo)體設(shè)備廠商KLA具有
2022-03-04 面議/臺(tái)關(guān)于本網(wǎng)| 大事記|玻璃展會(huì)|熱點(diǎn)搜索|玻璃人才|玻璃名錄|站點(diǎn)地圖|活動(dòng)推廣|隱私聲明|版權(quán)聲明|玻璃供應(yīng)|聯(lián)系我們|English
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